如何用溫度校正爐校正熱顯像儀或紅外線溫度計

#校正

校準紅外線溫度計（也稱為熱顯像儀）的程序與其他溫度傳感器的校準程序有根本的不同。與傳統溫度計不同，紅外線溫度計不通過接觸介質進行測量，而是通過評估物體所放射的熱量來進行測量。

這些熱像儀需要一種特殊的校準方法，我們可以在我們的溫度校準儀中實施。我們使用SIKA專利的特殊校準插入件。

為了使紅外線溫度計獲得最佳的校準結果，我們需要使用一個盡可能接近理想的“黑體”。黑體是一種理想化的物理體，它吸收所有入射（干擾）輻射，同時釋放熱量。

這樣一個理想化的物體理論上應具有1的發射因子。然而，在實際應用中，無法實現100%的效率。通過我們專利的紅外線校準插入件，我們可以實現0.9994的發射因子，非常接近物理上可能的極限。

該插入件的特點是，紅外線溫度計所瞄準的校準表面位於校準器的內部深處。這樣就可以防止空氣流動影響校準表面的熱輻射。此外，校準插入件具有非對稱的內部幾何形狀，防止干擾輻射進入到校準插入件的基底，也就是校準表面。

與傳統溫度計一樣，然後在校準器和熱像儀之間使用校準表面的設定溫度進行比較校準。

作者: Martin Opfermann (Product manager)

日期: 04/14/2023

原文連結: https://www.sika.net/en/sika-blog/calibrating-infrared-thermometers/

產品連結: https://www.ocan.tw/%E7%94%A2%E5%93%81%E7%B8%BD%E8%A6%BD?%E9%A1%9E%E5%88%A5=%E6%BA%AB%E5%BA%A6%E6%A0%A1%E6%AD%A3%E7%88%90